Først i verden – med ny VNA-opsjon

Med opsjonen kan VectorStar utføre enkeltsveip VNA og spektrumbaserte målinger for å verifisere aktive og passive enheter under design-, feilsøkings- eller karakteriseringsstadiene.

Opsjonen er kompatibeltmed alle basebånd VectorStar-modeller – i bredbånds- og båndsystemkonfigurasjoner. Integrering av VNA/spektrumanalysatorfunksjoner skal sørge for en innovativ metode å overføre en krevende VNA-måling til spektrumanalysatoren – uten å endre testoppsettet eller bruke flere instrumenter. Det er spesielt gunstig for applikasjoner som involverer miksere og forsterkere, inkludert de med flere utganger eller input-output sammenligninger.

Samtidig er sekvensiell S-parameter- og spektrumanalyse mulig. Spektraldomenemålinger av harmoniske, falske, andre forvrengningsprodukter og generelt frekvensinnhold kan gjøres effektivt med enkeltinstrumentløsningen, heter det. Den gjør også mulig å analysere VNA-lignende og spektrumanalysator-lignende respons til en enhet under test (DUT).

VNA-løsningen er ideell for målinger på rene skiver (wafer), siden den utnytter VectorStars mulighet til å lage en direkte tilkobling til en skivekomponent. Montering og demontering av enheter på skiven, som kan forårsake store feil i måling, elimineres med denne løsningen. Strømkalibrering kan utføres ved probespissen for større nøyaktighet og repeterbarhet.

To konfigurasjoner er tilgjengelige: Standard VNA-modus som støtter punktbasert spektrumanalyse for raskere målinger, for eksempel for kjent signalanalyse. For ukjent signalanalyse kan løsningen konfigureres med en tradisjonell sveipbasert spektrumanalysator.

Løsningen vil bli vist på European Microwave Week 2022 i Milano (27. til 29. september) ved hjelp av VectorStar ME7838G VNA.