Øker svitsjetettheten betydelig

Pickering Interfaces regnes som en av de ledende leverandørene av modulbaserte signalsvitsjings- og simuleringsløsningene for test og verifikasjon av elektronikk. Nå har de lansert nye integrerte PXI RF matrisemoduler med en 32x8 topologi – noe som representerer en økning i matrisetetthet på 33% per chassisport. De nye kompakte 40-724 PXI og 42-724 PXIe modulene gir dermed høy ytelse med anvendelig båndbredde på 300 MHz for non-loop-thru modeller.

Modulene legger til rette for enkel skalerbarhet og har muligheter for loop-thru porter på Y-aksen for større applikasjoner som krever matriseutvidelse. For å ivareta maksimum detaljnivå for testsystemoppbygging, er 4x-724 familien tilgjengelig i fire matrisestørrelser: 16x4, 16x8, 32x4 og den fullbestykkede 32x8. Loop-thru-klare opsjoner tilbys for hver matrisestørrelse. Loop-thru portene er koplet direkte til matrisen, noe som – i motsetning til andre RF-matriseprodukter – gjør det mulig å etablere X-til-X signalveier mellom kort ved kaskadekopling av flere moduler. Denne funksjonen øker fleksibiliteten i testsystemet, men med redusert RF-ytelse.

– Familien bygger på eksisterende modulteknologi for RF-matriser fra Pickering Interfaces for å øke den maksimale matrisestørrelsen til 32x8 for bruk i 50Ω testapplikasjoner, forklarer Steve Edwards, ansvarlig for svitsjeprodukter hos Pickering Interfaces. – Den økte tettheten gjør det mulig å lage komplekse svitsjesystemer samtidig som det bare kreves to chassisporter, fortsetter han.

4x-724 RF matrisemoduler anvender høykvalitets ruthenium- sputtered reed-reléer, noe som skal sikre lang levetid. Reed-reléene får dessuten en operasjonstid på kun 0,5 ms, noe som skal være betydelig kortere enn elektromekanisk-baserte løsninger. Dette skal bidra til å redusere varigheten på testsyklusen og øke testkapasiteten.

Modulene er tilgjengelige med et PXI- eller PXIe styregrensesnitt som skal gi fleksibilitet i valg av chassis. Alle versjonene benytter industristandard OFM kontakter for å optimalisere systemytelsen samtidig som man forenkler grensesnittet mot ekstern instrumentering og DUTer.