Fleksibel probestasjon for lave volum
Amerikanske Huntron har lansert en probestasjon for test av ferdigmonterte kretskort. Fordeler som fremheves er nøyaktighet og det faktum at man også kan teste kort som mangler dokumentasjon.
Denne artikkelen er 2 år eller eldre
Huntron viste på electronica forrige uke sin nye «Huntron Access DH2 (Dual Head) Open Architecture Probing Station».
Dette systemet passer best ved produksjon av lavt volum, laboratorieautomatisering og test av eldre kretskort der grensesnitt mellom to punkter er nødvendig. Den åpne arkitekturplattformen kombinert med de to probehodene skal gi en en fleksibel løsning for tettpakkede overflatemonterte komponenter samt gjennomgående hull på de mest komplekse kortene, lover produsenten.
Stasjonen kan brukes med tradisjonelle Huntron Tracker-produkter eller konfigurert til å fungere sammen med funksjonelle og parametriske test- og måleinstrumenter. Et innebygd 19" hyllesystem gir plass til PC og testinstrumentering, noe som produsenten sier gir en plug-and-play-tilnærming til automatisering av manuelt styrte probe-applikasjoner.
Workstation Remote Control and Huntrons programvareutviklingssett muliggjør dessuten brukerdefinerte oppsett.
Andre fordeler som fremheves er at det er mulig å gjenopprette kretskort som tidligere ikke har vært reparerbare. For eksempel produkter som mangler dokumentasjon eller faller ut i forbindelse med funksjonell test.
Norsk representant er Westron AS.
