Cadence lanserer analog kretsdesign for pålitelighet - Elektronikknett
Cadence-automotive

Cadence lanserer analog kretsdesign for pålitelighet

CDNLive, München: Selv sier EDA-leverandøren Cadence at dette er markedets første verktøy som simulerer pålitelighet over produktets levetid.

Under den europeiske brukerkonferansen CDNLive som går i disse dager, lanserte Cadence et nytt verktøy for pålitelighetsanalyse.

Legato, som verktøyet heter, adresserer pålitelighetsutfordringer over hele produktets livssyklus for automotive-, medisinske-, industrielle-, luftfart- og forsvarsapplikasjoner. Verktøyet er basert på og integreres i kretsdesignplattformen Cadence Virtuoso Custom IC og Spectre Accelerated Parallel Simulator.

I følge selskapet er dette en løsning som gir analog-designere verktøy for å håndtere pålitelighet over hele produktets livssyklus.

Løsningen består av tre deler:

Legato_temp Cadence Legato Reliability simulerer blant annet temperaturøkning på brikken og drift for å hindre termisk stress.

Analog defektanalyse som skal øke hastigheten for simulering hundre ganger, og skal også eliminere «testflukt» som gjerne er hovedkilden til tidlige feil i kretsdesign.

Elektrotermisk analyse skal bidra til at man tidlig unngår feil på grunn av termisk overbelastning over produktets levetid.

Avansert aldringsanalyse som gjør det mulig å forutse levetiden gjennom analyse av aldringsakselerasjon forårsaket av temperatur- og prosessvariasjon.

På en pressekonferanse i München i dag, sa Arthur Schaldenbrandt fra Cadence at det er utarbeidet modeller som tar hensyn til hvor kretsene er produsert blant annet. Det finnes et IEEE-basert modellbibliotek der antatte «svakheter» i kretser er dokumentert.

Analog defektanalyse
Analog defektanalyse bygger på en simuleringsmotor som gir en ny testmetode for analog kretsdefekt-testing. Denne hevdes å utvide testen langt utover det som tradisjonelt oppnås ved bare å gjøre funksjonelle og parametriske tester. Defektorientert testing muliggjør eliminering av produksjonsfeil i kretsen og resulterende «testflukt» som forårsaker feltfeil. Den kan også brukes til å optimalisere wafer-testen, og redusere antall tester som kreves for å oppnå måldefektdekning ved eliminere eller redusere overtesting og potensielt redusere antall tester med opptil 30 prosent. En pilotkunde som Infineon har sagt at de har klart å akselerere defektsimulering mer enn 100 ganger.

Elektrotermisk analyse
Dynamisk elektrotermisk simuleringsmotor er spesielt viktig for bilindustrien. Kombinasjonen av store strømtap i et høytemperaturmiljø kan føre til termisk overbelastning som igjen kan føre til feil under normal drift. Dynamisk elektro-termisk simulering gjør det mulig å simulere temperaturstigningen på brikken og validere driften av beskyttelseskretser for overtemperatur.

Avansert aldringsanalyse
Cadence har fra før verktøy for aldringsanalyse; RelXpert og AgeMOS som analyserer nedbrytingen av brikker på grunn av elektrisk stress. I Legato forbedrer Cadence aldringsanalysen ved å inkludere effekter som bidrar til slitasje, blant annet elementer som temperatur- og prosessvariasjon. Cadence leverer også en ny aldringsmodell for nedbryting av enheter i avanserte noder med FinFET-transistorer.

Mer fra konferansen i Elektronikk nr 6.