NTF 2015: Big data og teststrategier
Test- og målespesialistene har samlet seg til Nordisk Testforum 24.-25. november, denne gang i Oslo.
Denne artikkelen er 2 år eller eldre
Programmet var som vanlig meget bredt, fra lønnsomhetsbetraktninger til boundary scan, fiksturer og testgrensesnitt, simulering, instrumentering og ikke minst ”big data”, som nå også kanskje må omdøpes til ”big, fast data”. – Vi har omkring 60 påmeldte her, hvilket er omtrent som det pleier være, og veldig bra til å være i Norge, sier Knut Båtstoløkken, som er styreformann i NTF.
Flere av utstillerne hadde fokus på produksjonstest. En av dem er AddQ Consulting AB, som viste frem en maskin for test av kretskort. – Dette er en enkel måte å finne feil i produksjonen på, sier salgssjef Mats Backlund. – Det hender det oppstår feil i produksjonsmaskiner som kan være vanskelige å finne igjen. Da er det bare å legge inn kortet, så tester apparatet strømmer, spenninger og funksjoner automatisk. Resultatene kan lagres i en database, og sammenholdes med statistisk prosessstyring og 6-sigma rutiner, forklarer han.
Modulbasert instrumentering på PXI-faktoren ser ut til å være i fremgang i industrien. For 4-5 år siden gikk Keysight Technologies (tidligere Agilent) tungt inn i dette segmentet. – Det viste seg å være et konsept som passer perfekt med vårt fokus på høyhastighets RF-kommunikasjon. Siden den gang har vi utviklet oss i mer løsnings-/applikasjonsorientert retning, forteller markedssjef Rob Hood.
– Det er gode grunner til å ta i bruk PXI i produksjonstest (men også på laben), når man ser på kombinasjonen av antall kanaler, testhastighet, fotavtrykk og ytelse. – Du får hele spekteret av måleinstrumenter kombinert i ett. Nå ser vi også at brukerne har skjønt at det er mulig å presse så kraftige funksjoner inn i PXI-modulene, sier han. Keysight tilbyr nå et utvalg referanseløsninger tilpasset ulike anvendelser.